WS520-2017 CR質量控制檢測模體

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參考標準：WS520-2017

產品介紹 低對比度細節(jié)檢測模體用于拍片和CR/ DR系統(tǒng)成像性能質量檢測 ，模體包含18個低對比度孔 ，可以有效的評估大范圍的低對比度分辨力。模體還可以對亮度和對比度進行調節(jié) ，檢測圓形幾何一致性（掃描線性）和空間分辨力。 A.2. 產品符合如下標準 （ 1 ） lWS520-2017計算機X射線攝影(CR)質量控制檢測規(guī)范 （2 ） lWS521-2017醫(yī)用數(shù)字X射線攝影(DR)系統(tǒng)質量控制檢測規(guī)范 （ 3 ） lIEC 61223-3-1 （4 ） lIPEM報告91(2005)： 由醫(yī)學物理和工程研究所發(fā)布的診斷X射線成像系統(tǒng)常規(guī)性能 測試的推薦標準

技術參數(shù) 1、直徑： 180mm；厚度： 10mm。 2、模體外緣有3個圓形標記 ，直徑分別為150mm， 160mm和170 mm ，用于幾何一致 性和準直檢測。 3、 18個直徑 8mm 的低對比度孔 ，產生的對比度范圍為 0.9% - 16.7%（ 0.9%， 1. 1%， 1.3%， 1. 5%， 1.7%， 2.2%， 2.7%， 3.2%， 3.9% ，4. 5%， 5.3%， 6.7%， 7. 5%， 8.8%， 10.9%， 12.8%， 14.8%， 16.7% @70kV）。 4、空間分辨力測試卡范圍 ：0.6 - 5.0 LP/ mm ，鉛箔厚度0. 1 mm。 5、包含Pb和Cu正方形標記 ，帶有圓形明亮和暗色物體 ，用于亮度和對比度調節(jié)。 6、包含1塊0. 5mm厚銅板， 1塊1mm厚銅板。

使用方法 1、對于攝影類設備（如DR）將測試模體水平放置在影像接收器表面 ，并置于光射野 中心位置。在出束口附加1.0mm銅濾過板。選擇 75kV或標準要求（ 5μGy） 的條件或者 設備廠家要求條件 ，攝影曝光模式， SID 選擇 100cm 或按照 DR\CR出廠檢測條件進行 采集圖像 ，采集完成調整窗寬和窗位 ，在顯示屏上用肉眼觀察能分辨最小細節(jié)。 2、透視類設備： 自動曝光模式或手動選擇 75kV ，透視曝光模式， SID 選擇 100cm 或按照設備出廠檢測條件曝光；或者自動曝光模式選擇清晰圖像；調整窗寬和窗位 ，觀察在顯示屏上用肉眼觀察能分辨最小細節(jié)。